Asbestitiimi palvelee asiakkaitaan koko kesän normaalisti.

Lentoaikaerotteinen Massaspektrometri (TOF-SIMS)

Aikaerotteinen massaspektrometria on menetelmä, jossa instrumentin elektroniikka rekisteröi materiaalista irtoavat ionit näiden ominaislentoaikojen perusteella. Jokaisella irtoavalla molekyylillä on tietty massa, ja tämä massa toimii hidastavasti, kun sähkövarauksen omaavat ionit pyritään laitteiston sisällä kiihdyttämään riittävän suuriin nopeuksiin. Näytteen välittömässä pinnassa olevat molekyylit tunnistetaan niiden hajoamisessa vapautuneiden ionien perusteella, sillä jokainen molekyyli hajoaa hiukan eri tavalla riippuen siitä, millaisia funktionaalisia ryhmiä ne sisältävät ja millaisessa ympäristössä ne ovat. Menetelmä soveltuu siis erityisesti orgaanisten aineiden tunnistamiseen. Laitteistolla voidaan toteuttaa myös syvyysprofilointia. Tällöin näytteen pintaa ikään kuin hiotaan hellästi ionisuihkulla. Menetelmä on niin sanotusti semi-kvantitatiivinen, toisin sanoen laitteen avulla suoritetaan tunnistus ja vain karkea pitoisuus mittaus.

sims spectri

Soveltuvat näytemateriaalit

Orgaaniset ja epäorgaaniset materiaalit

Hyödyt ja sovelluskohteet

  • Pintojen syvyyskartoitus nanometrikokoluokassa
  • Erittäin herkkä, jopa ppb pitoisuuksiin saakka
  • Ohutkalvorakenteiden tutkimus
  • Materiaalin pinnan tasalaatuisuuden kartoitukset
  • Isotooppitutkimukset
  • Paperit, pahvit, pakkaukset, kivi, metalli, muovit
  • Mitä tasaisempi pinta, sitä helpompi analyysi

Esimerkkejä

TOF SIMS
  • Top Analytica Oy Ab
  • Ruukinkatu 4, 20540 Turku (sijaitsee Old Mill -teknologiakiinteistön sisäpihalla)
  • Puhelin: 02-2827780
  • Asbestitiimi: +358 44 787 4845
Copyright © 2022 Top Analytica Oy Ab