Elektroniikkateollisuus

Elektroniikkateollisuuden tuotekehityksessä mikro­analytiikka ja mikroskopia ovat keskeisessä asemassa läpi koko prosessin. Top Analytica Oy:n tarjoaman analyysi­palvelun XPS/ESCA instrumentilla voidaan puolijohde­materiaalien alkuaine­jakaumaa tarkastella syvyys­suunnassa alle nanometrin resoluutiolla. Muiden muassa ALD tekniikalla rakennetut ultraohuet pinnoitteet vaativat tarkkuutta johon vain XPS ja ToF-SIMS kykenevät.

Elektronisten komponenttien rajapintoja voidaan tarkastella elektroni­mikroskoopilla käytännössä ainoastaan ioni­leikkuria hyödyntäen. Lähes kymmenen vuoden kokemuksella osaamme valmistaa näytteet tavoitteiden vaatimalla pieteetillä.

Uusimpana tuttavuutena meillä on käytössämme RAMAN spektrofotometri. Asianomaisella instrumentilla voidaan tarkastella piikiekon hilavirheitä suurelta pinta-alalta.

Electronics
  • Top Analytica Oy Ab
  • Ruukinkatu 4, 20540 Turku (sijaitsee Old Mill -teknologiakiinteistön sisäpihalla)
  • Puhelin: 02-2827780
  • Asbestitiimi: +358 44 787 4845
Copyright © 2022 Top Analytica Oy Ab