Elektroniikkateollisuuden tuotekehityksessä mikroanalytiikka ja mikroskopia ovat keskeisessä asemassa läpi koko prosessin. Top Analytica Oy:n tarjoaman analyysipalvelun XPS/ESCA instrumentilla voidaan puolijohdemateriaalien alkuainejakaumaa tarkastella syvyyssuunnassa alle nanometrin resoluutiolla. Muiden muassa ALD tekniikalla rakennetut ultraohuet pinnoitteet vaativat tarkkuutta johon vain XPS ja ToF-SIMS kykenevät.
Elektronisten komponenttien rajapintoja voidaan tarkastella elektronimikroskoopilla käytännössä ainoastaan ionileikkuria hyödyntäen. Lähes kymmenen vuoden kokemuksella osaamme valmistaa näytteet tavoitteiden vaatimalla pieteetillä.
Uusimpana tuttavuutena meillä on käytössämme RAMAN spektrofotometri. Asianomaisella instrumentilla voidaan tarkastella piikiekon hilavirheitä suurelta pinta-alalta.
