Laiteluettelo – analyysi- ja mittalaitteet materiaalitutkimukseen ja pinta-analytiikkaan

Tarjoamme monipuoliset analyysi- ja mittauspalvelut materiaalitutkimukseen, vika-analyysiin ja tuotekehitykseen. Käytössämme on laaja valikoima SEM-, EDS-, EBSD-, TOF-SIMS-, FT-IR-, Raman- ja XRF-laitteistoja. Alla on esitelty laboratoriomme keskeiset analyysilaitteet ja niiden käyttökohteet.

Elektronimikroskopia (SEM)

Pyyhkäisyelektronimikroskopia (SEM) soveltuu pintarakenteiden, vaurioiden ja mikrorakenteiden tutkimiseen. EDS- ja EBSD-tekniikat mahdollistavat alkuainekoostumuksen ja kiderakenteen analyysin.

• SEM Zeiss Gemini II 450
• SEM Zeiss LEO 1530 VP
• SEM-EDS JEOL JSM-IT100
• SEM-EDS JEOL JSM-IT200
• EDS Bruker XFlash 6|60
• EDS Oxford Scientific X-Max
• FlatQUAD Bruker XFlash 5060
• EBSD Bruker eFlash EBSD

Pintakemia ja molekyylianalyysi

Pintakemialliset analyysimenetelmät soveltuvat erityisesti pinnoitteiden ja kontaminaatioiden tutkimiseen.

• TOF.SIMS 5 IONTOF
• ESCA PHI Quantum 2000
• EPMA JXA-8600 JEOL

Spektroskopia

Spektroskopiamenetelmät tarjoavat tietoa materiaalien kemiallisesta rakenteesta.

• Raman Renishaw inVia Qontor
• FT-IR PerkinElmer Spectrum Two
• FT-IR PerkinElmer Spotlight 200i

Näytevalmistus

• BIB Gatan Model 693 Ilion
• BIB Hitachi ArBlade 5000

Pintamittaukset ja optiset mittaukset

• CA DPI OCA 50
• Värimittari
• Kiiltomittari

Röntgenanalyysi

Röntgenfluoresenssi soveltuu nopeaan ja rikkomattomaan alkuaineanalyysiin.

• XRF PANalytical Epsilon 3XL
• Micro-XRF Bruker Xtrace

Päivitetty: 9.1.2026