Röntgenfluoresenssi (XRF)

XRF on perinteinen alkuainepitoisuuksien mittaamisen tarkoitettu menetelmä. Atomeja viritetään röntgensäteilyllä tilaan, josta ne palautuvat emittoiden fluoresenssisäteilyä. Tätä säteilyä kutsutaan atomien emittoimaksi karakteriseksi sekondääriröntgensäteilyksi, jonka avulla saadaan informaatiota näytteen alkuaineista ja niiden pitoisuuksista.

test

  • Alkuainepitoisuuksien määritys (bulkkianalyysi)
  • Spektrialue: Natrium, Na (Z=11) – Uraani, U (Z=92)
  • Analysoitava konsentraatioalue (ppm – 100%)
  • Mittaussyvyys n. 0,1 - 2 mm (riippuu materiaalista)
  • Kvantitatiivinen analyysi vaatii referenssin

Voidaan mitata:

  • Nesteitä
  • Jauheita
  • Kiinteitä

Röntgenfluoresenssin ammattilainen

Esimerkkejä:

Meriveden XRF-analyysi

Tutkittiin meriveden suolapitoisuutta (natriumia ei havaita XRF:llä) eri menetelmillä. Omnian-ohjelma mittaa laskennallisesti ilman standardia ja menetelmässä on käytetty standardia veden klooripitoisuuden määrittämiseen. Menetelmään oli  määritetty vain kloori, Cl ja kalium, K.

Meriveden XRF-analyysi