Lentoaikaerotteinen Massaspektrometri (TOF-SIMS)

Aikaerotteinen massaspektrometria on menetelmä, jossa instrumentin elektroniikka rekisteröi materiaalista irtoavat ionit näiden ominaislentoaikojen perusteella. Jokaisella irtoavalla molekyylillä on tietty massa, ja tämä massa toimii hidastavasti, kun sähkövarauksen omaavat ionit pyritään laitteiston sisällä kiihdyttämään riittävän suuriin nopeuksiin. Näytteen välittömässä pinnassa olevat molekyylit tunnistetaan niiden hajoamisessa vapautuneiden ionien perusteella, sillä jokainen molekyyli hajoaa hiukan eri tavalla riippuen siitä, millaisia funktionaalisia ryhmiä ne sisältävät ja millaisessa ympäristössä ne ovat. Menetelmä soveltuu siis erityisesti orgaanisten aineiden tunnistamiseen. Laitteistolla voidaan toteuttaa myös syvyysprofilointia. Tällöin näytteen pintaa ikään kuin hiotaan hellästi ionisuihkulla. Menetelmä on niin sanotusti semi-kvantitatiivinen, toisin sanoen laitteen avulla suoritetaan tunnistus ja vain karkea pitoisuus mittaus.

principal

Soveltuvat näytemateriaalit

Orgaaniset ja epäorgaaniset materiaalit
Näytteen kokoluokka on n. 1 cm²

Hyödyt ja sovelluskohteet

  • Pintojen syvyyskartoitus nanometrikokoluokassa
  • Erittäin herkkä, jopa ppb pitoisuuksiin saakka
  • Ohutkalvorakenteiden tutkimus
  • Materiaalin pinnan tasalaatuisuuden kartoitukset
  • Isotooppitutkimukset
  • Paperit, pahvit, pakkaukset, kivi, metalli, muovit
  • Mitä tasaisempi pinta, sitä helpompi analyysi

Spectrum

Esimerkkejä:

PET

Lue koko case-study täältä